William J. Dupree, MIT, Lexington, MA; and D. Morse, M. Chan, X. Tao, M. Wolfson, J. O. Pinto, J. K. Williams, D. Albo, S. Dettling, M. Steiner, S. G. Benjamin, and S. S. Weygandt
David R. Bright, NOAA/NWS/NCEP, Kansas City, MO; and J. Huhn, S. J. Weiss, J. J. Levit, J. S. Kain, R. S. Schneider, M. C. Coniglio, M. Duquette, and M. Xue
John A. May, AvMet Applications International, Inc., Reston, VA; and C. G. Souders, F. Foss, R. Klein, P. Jackson, M. Carver, P. Schuster, J. Justiniano, S. Spincic, and J. Mechanic
Matthew Volkmer, NOAA/NWS/Weather Forecast Office, Melbourne, FL; and S. Spratt, C. Baxter, D. Sharp, R. Mobbs, M. Rosencrans, J. Peters, C. Abelman, and P. Witsaman